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宽禁带功率半导体器件可靠性

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  • 出版社:东南大学
  • ISBN:9787576601534
  • 作者:孙伟锋//刘斯扬//魏家行//李胜//张龙|
  • 页数:208
  • 出版日期:2024-09-01
  • 印刷日期:2024-09-01
  • 包装:平装
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:279千字